Вероятность повреждения гп уменьшает то, что в

Вероятность повреждения гп уменьшает то, что в 3д режим пару последних недель я его не включал, температура в 2д вряд-ли заметно выше 40. Обращаю внимание на повреждённые электролиты в схеме питания памяти возле транзисторов 06N03LA GAD717    и      09N03LA GAR729, с обратной стороны микросхема RT9214 PS9FNDA. Искажения производили впечатление мусорящей памяти, как при переразгоне. Поведение очень похоже на плохую работу памяти. Запускал досовский тест, в котором гп делает вертикальный и горизонтальный скроллинг и прочие 2д фокусы успешно.